Перегляд зібрання за групою - Теми X-ray diffraction analysis
Результати 1 до 1 із 1
Попередній перегляд | Дата випуску | Назва | Автор(и) |
---|---|---|---|
2017 | Вплив SMAT обробки на структуру електроосаджених в стацонарному, реверсному та стохастичному режимах прошарків міді | Тютенко, В.М.; Морозович, В.В.; Дідук, В.А.; Колінько, Сергій Олександрович; Лященко, Ю.О. |