Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості

Abstract

На сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах.