Метод оценки диагностических свойств тестов микросхем памяти

Abstract

В статті розглянуті питання діагностування несправностей мікросхем пам’яті. Приведені результати моделювання несправностей мікросхем пам’яті за допомогою моделей, представлених у вигляді графів цифрових автоматів з скінченим числом станів. Проведено аналіз особливостей алгоритмів тестів мікросхем пам’яті, визначені діагностичні властивості тестів. На основі отриманих результатів розроблено метод оцінки діагностичних властивостей тестів мікросхем пам’яті. The questions of fault diagnosis of memory chips are considered in the article. The results of fault simulation of memory chips using the models presented in the form of graphs of digital machines with a finite number of states. The analysis of the features of algorithms tests of memory chips is carried out; the diagnostic properties of tests are defined. On the basis of the received results the method of an estimation of the diagnostic properties of tests of memory chips is developed.