1. Repository at ChSTU

Пошук


Поточні фільтри:
Почати новий пошук
Додати фільтри:

Використовуйте фільтри для уточнення результатів пошуку.

 | 
Результати 1-8 зі 8.
  • назад
  • 1
  • далі
Знайдені матеріали:
Попередній переглядДата випускуНазваАвтор(и)
Автореферат Бондаренка МО.pdf.jpg2019-01-23Розвиток методів та засобів атомно-силової мікроскопії для неруйнівного контролю характеристик компонентів мікросистемної технікиБондаренко, Максим Олексійович
thesis 10-2018.pdf.jpg2018-10-11Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопіїБондаренко, Юлія Юріївна; Андрієнко, Володимир Олександрович; Титаренко, Віталій
135_thesis.pdf.jpg2017-09-18Изучение микроэлектромеханических пьезоэлектрических структур методом атомно-силовой микроскопииБазіло, Костянтин Вікторович; Бондаренко, Юлія Юріївна; Медяник, Володимир Володимирович
152_thesis.pdf.jpg2018-09-17Indicators for evaluation of economic efficiency of metrological equipment of the atomic-force microscopy in the stage of designМедяник, Володимир Володимирович; Білокінь, Світлана Олександрівна
36046-68033-1-SM.pdf.jpg2014Прогнозування терміну надійної експлуатації інтегральних мікросхем радіотехнічних пристроївАндрієнко, Володимир Олександрович; Іванченко, В.В.; Гончаров, Артем Володимирович; Скорина, Є.В.; Антонюк, Віктор Степанович
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdf.jpg2018-05-22Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та системБілокінь, Світлана Олександрівна; Андрієнко, Володимир Олександрович
151_thesis.pdf.jpg2018-09-17Perspectives of development of multiinstrumental atomic-force microscopy under nanometric researches of components of microsystem equipmentСуслов, Андрій Анатолійович; Андрієнко, Ольга Іванівна
112_thesis.pdf.jpg2015-06-01Склерометрична оцінка зносостійкості тонких покриттів методом атомно-силової мікроскопіїАнтонюк, Віктор Степанович; Бондаренко, Юлія Юріївна; Білокінь, Світлана Олександрівна

Перегляд