Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/736
Назва: Визначення критичних значень параметрів електронного променю при поверхневому оплавленні оптичних елементів точного приладобудування
Інші назви: Determining the Critical Parameters of the Electron Beam with Surface Melting of the Opti-cal Elements of Precision Instrumentation
Автори: Яценко, Ірина В'ячеславівна
Антонюк, Віктор Степанович
Гордієнко, Валентин Івнович
Ващенко, Вячеслав Андрійович
Кириченко, Оксана В'ячеславівна
Ключові слова: електронний промінь;оптичний елемент;Товщина оплавленого шару;точне приладобудування
Дата публікації: 2017
Видавництво: Журнал нано-та електронної фізики
Короткий огляд (реферат): Розроблено математичні моделі глибокого оплавлення елементів з оптичного скла при дії електронного променю. Проведено розрахунки товщини оплавленого шару і швидкостей руху поверхні розділу фаз в залежності від параметрів електронного променю (густини та часу його теплового впливу). Встановлено, що при зміні густини теплового впливу променю в діапазоні 7∙10^6...8,5∙10^8 Вт/м^2 і збільшенні часу його впливу до 14 с товщина оплавленого шару може досягати 300...500 мкм. Визначено критичні значення параметрів електронного променю, перевищення яких призводить до порушення площинності оптичних елементів, зміни їх геометричної форми і погіршення техніко-експлуатаційних характеристик приладів, аж до їх виходу з ладу.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/736
ISSN: 2077-6772
DOI: 10.21272
Том: 9
Випуск: 1
Початкова сторінка: 01010-1
Кінцева сторінка: 01010-5
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
jnep_V9_01010.pdf415.78 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.