Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/736
Название: Визначення критичних значень параметрів електронного променю при поверхневому оплавленні оптичних елементів точного приладобудування
Другие названия: Determining the Critical Parameters of the Electron Beam with Surface Melting of the Opti-cal Elements of Precision Instrumentation
Авторы: Яценко, Ірина В'ячеславівна
Антонюк, Віктор Степанович
Гордієнко, Валентин Івнович
Ващенко, Вячеслав Андрійович
Кириченко, Оксана В'ячеславівна
Ключевые слова: електронний промінь;оптичний елемент;Товщина оплавленого шару;точне приладобудування
Дата публикации: 2017
Издательство: Журнал нано-та електронної фізики
Краткий осмотр (реферат): Розроблено математичні моделі глибокого оплавлення елементів з оптичного скла при дії електронного променю. Проведено розрахунки товщини оплавленого шару і швидкостей руху поверхні розділу фаз в залежності від параметрів електронного променю (густини та часу його теплового впливу). Встановлено, що при зміні густини теплового впливу променю в діапазоні 7∙10^6...8,5∙10^8 Вт/м^2 і збільшенні часу його впливу до 14 с товщина оплавленого шару може досягати 300...500 мкм. Визначено критичні значення параметрів електронного променю, перевищення яких призводить до порушення площинності оптичних елементів, зміни їх геометричної форми і погіршення техніко-експлуатаційних характеристик приладів, аж до їх виходу з ладу.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/736
ISSN: 2077-6772
DOI: 10.21272
Том: 9
Выпуск: 1
Первая страница: 01010-1
Последняя страница: 01010-5
Располагается в коллекциях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
jnep_V9_01010.pdf415.78 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.