Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798
Название: Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем
Авторы: Білокінь, Світлана Олександрівна
Андрієнко, Володимир Олександрович
Ключевые слова: діагностика;атомно-силова мікроскопія;нанооб'єкт
Дата публикации: 22-мая-2018
Издательство: Інтегровані інтелектуальні робототехнічні комплекси (ІІРТК-2018): Х міжнар. наук.-практ. конф.
Краткий осмотр (реферат): В науковій роботі, що проводиться колективом авторів, розробляються нові методики проведення комплексної діагностики мікрогеометричних параметрів та фізико-механічних властивостей (мікротвердості, зносостійкості, адгезійної міцності тощо) матеріалів для нанотехнологій в прецизійному приладобудуванні, робототехніці, наноелектроніці, медицині та мікрооптиці
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798
Первая страница: 100
Последняя страница: 102
Располагается в коллекциях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdfПереваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем603.16 kBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.