1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет комп'ютеризованих технологій машинобудування і дизайну
  4. Наукові публікації викладачів (ФКТМД)
Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2942
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБутенко, Тетяна Іванівна-
dc.contributor.authorКолінько, Сергій Олександрович-
dc.contributor.authorВащенко, Вячеслав Андрійович-
dc.date.accessioned2021-11-30T12:53:38Z-
dc.date.available2021-11-30T12:53:38Z-
dc.date.issued2021-
dc.identifier.urihttps://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2942-
dc.description.abstractРозглянуто основні методи контролю стану поверхні матеріалів, методи оптичної мікроскопії та електронно-мікроскопічного аналізу матеріалів. Приділено увагу фізичним основам роботи мікроскопів. Розглянуто методи дослідження структури та мікроаналізу матеріалів, рентгеноструктурний аналіз матеріалів та лазерну мас-спектрометрію. Призначений для здобувачів освітнього ступеня бакалавр за спеціальностями галузі знань 13 “Механічна інженерія” денної форми навчання.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherЧеркаси: ЧДТУuk_UA
dc.subjectструктураuk_UA
dc.subjectконтроль складуuk_UA
dc.subjectелементний складuk_UA
dc.subjectфазовий складuk_UA
dc.titleКонспект лекцій з дисципліни «Контроль структури, елементного та фазового складу матеріалів» для здобувачів освітнього ступеня бакалавр за спеціальностями галузі знань 13 “Механічна інженерія” денної форми навчанняuk_UA
dc.typeCourse of Lecturesuk_UA
dc.citation.pages75uk_UA
Appears in Collections:Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Контроль структури.pdf3.87 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.