Процедура ускоренного выбора лучших материнских плат

Abstract

Одними из основных компонентов микропроцессорных систем технологического оборудования являются материнские платы. При использовании материнских плат в промышленности, например в лазерных технологических комплексах, значительную роль играют их мощности потребления, и диапазон температур в котором данные материнские платы способны надежно работать. Влияние данных факторов на производительность и надежность изделия удобно определять с помощью методов, которые позволяют одновременно анализировать несколько значащих величин соответствующих параметров. В современных работах недостаточно отображено, как из огромного множества материнских плат быстро выбрать лучший тип платы по многим параметрам одновременно, и тем более отсутствует информация о наличии резерва соответствующих параметров, позволяющая их усовершенствование. Поэтому разработка метода, уменьшающего время на проектирование, является актуальной задачей. Учитывая, что многокритериальность и визуализация содействуют сокращению времени при проектировании новых микропроцессорных систем и компонентов лазерных технологических комплексов, в том числе и материнских плат, то исследование их взаимосвязей является первоочередной задачей. Целью работы является разработка метода визуализации для определения наилучших материнских плате помощью многокритериальной модели на основе теории неполного подобия и размерностей.