Швидкий вибір мікроконтролера з відповідними параметрами на основі теорії неповної подібності

Abstract

На основі теорії неповної подібності та розмірностей, що дозволило на підставі візуалізації визначити залежності неповного переліку параметрів мікроконтролерів (МК). Запропонований перелік сучасних МК та визначальних величин, які мають суттєвий вплив на експлуатаційну технологічність мікроконтролерів. Запропоновані два умовних критерія подібності на основі визначальних величин та Пі-теореми, що дає можливість швидко вибрати тип відповідного мікроконтролера та визначити напрямок удосконалення.