Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3947
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorКовтуненко, Віктор Степанович-
dc.contributor.authorДубровська, Галина Миколаївна-
dc.contributor.authorКолінько, Сергій Олександрович-
dc.contributor.authorІваницький, Валентин Петрович-
dc.date.accessioned2022-04-13T11:18:54Z-
dc.date.available2022-04-13T11:18:54Z-
dc.date.issued1999-
dc.identifier.urihttps://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3947-
dc.description.abstractПід час аналізу мікроструктури аморфних тонких плівок As-Se та Ge-Sb було виявлено зміну ступеня мікронеоднорідності окремих плівок беспосередньо в процесі електронномікроскопічних досліджень. Модифікація мікроструктури не супроводжується кристалізацією плівок.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherModification o properties of Surface Layers of Nan-Semiconducting Materials using. ”Particle Beams”: proceedings cInternationa lonference. Sumy (Ukraine).uk_UA
dc.subjectаморфні плівкиuk_UA
dc.subjectмікроструктураuk_UA
dc.subjectелектронна мікроскопіяuk_UA
dc.subjectструктурна модифікаціяuk_UA
dc.titleМодифікація мікроструктури тонких аморфних плівок системи As-Se та Ge-Sb під впливом електронного опромінювання.uk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage102uk_UA
dc.citation.epage102uk_UA
Appears in Collections:Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
27.pdf44.48 kBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.