Модифікація мікроструктури тонких аморфних плівок системи As-Se та Ge-Sb під впливом електронного опромінювання.

Ковтуненко, Віктор Степанович; Дубровська, Галина Миколаївна; Колінько, Сергій Олександрович; Іваницький, Валентин Петрович

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3947

Назва:	Модифікація мікроструктури тонких аморфних плівок системи As-Se та Ge-Sb під впливом електронного опромінювання.
Автори:	Ковтуненко, Віктор Степанович Дубровська, Галина Миколаївна Колінько, Сергій Олександрович Іваницький, Валентин Петрович
Ключові слова:	аморфні плівки;мікроструктура;електронна мікроскопія;структурна модифікація
Дата публікації:	1999
Видавництво:	Modification o properties of Surface Layers of Nan-Semiconducting Materials using. ”Particle Beams”: proceedings cInternationa lonference. Sumy (Ukraine).
Короткий огляд (реферат):	Під час аналізу мікроструктури аморфних тонких плівок As-Se та Ge-Sb було виявлено зміну ступеня мікронеоднорідності окремих плівок беспосередньо в процесі електронномікроскопічних досліджень. Модифікація мікроструктури не супроводжується кристалізацією плівок.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3947
Початкова сторінка:	102
Кінцева сторінка:	102
Розташовується у зібраннях:	Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Файли цього матеріалу:

Файл	Опис	Розмір	Формат
27.pdf		44.48 kB	Adobe PDF	Переглянути/Відкрити

Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.

Репозиторій ЧДТУ