1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет комп'ютеризованих технологій машинобудування і дизайну
  4. Наукові публікації викладачів (ФКТМД)
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3948
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorКовтуненко, Віктор Степанович-
dc.contributor.authorКолінько, Сергій Олександрович-
dc.contributor.authorДубровська, Галина Миколаївна-
dc.date.accessioned2022-04-13T11:20:11Z-
dc.date.available2022-04-13T11:20:11Z-
dc.date.issued2000-06-05-
dc.identifier.urihttps://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3948-
dc.description.abstractНаведено результати експериментальних досліджень зміни фазового стану та мікроструктури аморфних тонких плівок системи Ge-Sb при їх термічній обробці. Спостерігалась також локальна кристалізація плівок сурми під дією електронного променя в процесі електронномікроскопічних досліджень.uk_UA
dc.language.isoruuk_UA
dc.publisherТезисы докладов XVIII Российской конференции по электронной микроскопии (ЭМ’2000), Черноголовкаuk_UA
dc.subjectдискретне термічне напиленняuk_UA
dc.subjectаморфна структураuk_UA
dc.subjectкристалізаціяuk_UA
dc.subjectмікроструктураuk_UA
dc.titleОсобливості электронного розсіювання в аморфних плівках Ge-Sb.uk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage51uk_UA
dc.citation.epage51uk_UA
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
30.pdf24.5 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.