Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3948
Назва: Особливості электронного розсіювання в аморфних плівках Ge-Sb.
Автори: Ковтуненко, Віктор Степанович
Колінько, Сергій Олександрович
Дубровська, Галина Миколаївна
Ключові слова: дискретне термічне напилення;аморфна структура;кристалізація;мікроструктура
Дата публікації: 5-чер-2000
Видавництво: Тезисы докладов XVIII Российской конференции по электронной микроскопии (ЭМ’2000), Черноголовка
Короткий огляд (реферат): Наведено результати експериментальних досліджень зміни фазового стану та мікроструктури аморфних тонких плівок системи Ge-Sb при їх термічній обробці. Спостерігалась також локальна кристалізація плівок сурми під дією електронного променя в процесі електронномікроскопічних досліджень.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3948
Початкова сторінка: 51
Кінцева сторінка: 51
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
30.pdf24.5 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.