Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3951
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorДубровська, Галина Миколаївна-
dc.contributor.authorКолінько, Сергій Олександрович-
dc.contributor.authorКовтуненко, Віктор Степанович-
dc.contributor.authorПоздєєв, Сергій Валерійович-
dc.date.accessioned2022-04-14T09:46:09Z-
dc.date.available2022-04-14T09:46:09Z-
dc.date.issued2003-09-22-
dc.identifier.urihttps://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/3951-
dc.description.abstractНаведені результати мікроскопічних досліджень наноструктури аморфних тонких плівок As-Se та Ge-Sb. Виявлена залежність ступеня мікронеоднорідності плівок від їх хімічного складу, технологічних умов напилення та режимів електронно-променевої обробки.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherБлагородные и редкие металлы. БРМ-2003: материалы Четвертой Международной конференцииuk_UA
dc.subjectдискретне термічне випаровуванняuk_UA
dc.subjectелектронно-променева обробкаuk_UA
dc.subjectеліпсометричні дослідженняuk_UA
dc.subjectнаноструктураuk_UA
dc.titleОтримання плівок Ge-Sb та As-Se методом вакуумного дискретного випаровування та еліпсометричні дослідження.uk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage483uk_UA
dc.citation.epage485uk_UA
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФКТМД)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
40.pdf107.31 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.