1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет інформаційних технологій і систем
  4. Наукові публікації викладачів (ФІТІС)
Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorЛукашенко, Андрій Германович-
dc.contributor.authorРудаков, Костянтин Сергійович-
dc.contributor.authorАксьонов, С.Ф.-
dc.contributor.authorЗалізняк, В.Л.-
dc.contributor.authorЗубко, Ігор Анатолійович-
dc.contributor.authorЛукашенко, Валентина Максимівна-
dc.date.accessioned2021-11-25T13:19:29Z-
dc.date.available2021-11-25T13:19:29Z-
dc.date.issued2018-02-22-
dc.identifier.isbn978-966-8736-05-6-
dc.identifier.urihttps://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868-
dc.description.abstractНа сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisher«Věda a technologie: krok do budoucnosti – 2018» : materiály XIV Mezinárodní vědecko-praktická konference Praha, 22-28 února 2018 г.uk_UA
dc.subjectмікроелектронікаuk_UA
dc.subjectзнакова модельuk_UA
dc.subjectапаратно-обчислювальна платформаuk_UA
dc.subjectоб'єктно-інваріантні критеріїuk_UA
dc.titleМетод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якостіuk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage66uk_UA
dc.citation.epage70uk_UA
Appears in Collections:Наукові публікації викладачів (ФІТІС)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості.pdf4.64 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.