Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості

Лукашенко, Андрій Германович; Рудаков, Костянтин Сергійович; Аксьонов, С.Ф.; Залізняк, В.Л.; Зубко, Ігор Анатолійович; Лукашенко, Валентина Максимівна

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868

Полная запись метаданных

Поле DC	Значение	Язык
dc.contributor.author	Лукашенко, Андрій Германович	-
dc.contributor.author	Рудаков, Костянтин Сергійович	-
dc.contributor.author	Аксьонов, С.Ф.	-
dc.contributor.author	Залізняк, В.Л.	-
dc.contributor.author	Зубко, Ігор Анатолійович	-
dc.contributor.author	Лукашенко, Валентина Максимівна	-
dc.date.accessioned	2021-11-25T13:19:29Z	-
dc.date.available	2021-11-25T13:19:29Z	-
dc.date.issued	2018-02-22	-
dc.identifier.isbn	978-966-8736-05-6	-
dc.identifier.uri	https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868	-
dc.description.abstract	На сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах.	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	«Věda a technologie: krok do budoucnosti – 2018» : materiály XIV Mezinárodní vědecko-praktická konference Praha, 22-28 února 2018 г.	uk_UA
dc.subject	мікроелектроніка	uk_UA
dc.subject	знакова модель	uk_UA
dc.subject	апаратно-обчислювальна платформа	uk_UA
dc.subject	об'єктно-інваріантні критерії	uk_UA
dc.title	Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості	uk_UA
dc.type	Publication in Conference Proceedings	uk_UA
dc.citation.spage	66	uk_UA
dc.citation.epage	70	uk_UA
Располагается в коллекциях:	Наукові публікації викладачів (ФІТІС)

Файлы этого ресурса:

Файл	Описание	Размер	Формат
Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості.pdf		4.64 MB	Adobe PDF	Просмотреть/Открыть

Показать базовое описание ресурса Просмотр статистики

Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.

Репозиторий ЧГТУ