ChSTU repository
ChSTU repository preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets
Learn More
Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868| Title: | Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості |
| Authors: | Лукашенко, Андрій Германович Рудаков, Костянтин Сергійович Аксьонов, С.Ф. Залізняк, В.Л. Зубко, Ігор Анатолійович Лукашенко, Валентина Максимівна |
| Keywords: | мікроелектроніка;знакова модель;апаратно-обчислювальна платформа;об'єктно-інваріантні критерії |
| Issue Date: | 22-Feb-2018 |
| Publisher: | «Věda a technologie: krok do budoucnosti – 2018» : materiály XIV Mezinárodní vědecko-praktická konference Praha, 22-28 února 2018 г. |
| Abstract: | На сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. |
| URI: | https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868 |
| ISBN: | 978-966-8736-05-6 |
| First Page: | 66 |
| End Page: | 70 |
| Appears in Collections: | Наукові публікації викладачів (ФІТІС) |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості.pdf | 4.64 MB | Adobe PDF |  View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.