Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868
Title: | Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості |
Authors: | Лукашенко, Андрій Германович Рудаков, Костянтин Сергійович Аксьонов, С.Ф. Залізняк, В.Л. Зубко, Ігор Анатолійович Лукашенко, Валентина Максимівна |
Keywords: | мікроелектроніка;знакова модель;апаратно-обчислювальна платформа;об'єктно-інваріантні критерії |
Issue Date: | 22-Feb-2018 |
Publisher: | «Věda a technologie: krok do budoucnosti – 2018» : materiály XIV Mezinárodní vědecko-praktická konference Praha, 22-28 února 2018 г. |
Abstract: | На сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. |
URI: | https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868 |
ISBN: | 978-966-8736-05-6 |
First Page: | 66 |
End Page: | 70 |
Appears in Collections: | Наукові публікації викладачів (ФІТІС) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості.pdf | 4.64 MB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.