Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868
Назва: Метод аналізу апаратно-обчислювальних платформ на основі обєктно-інваріантних критеріїв якості
Автори: Лукашенко, Андрій Германович
Рудаков, Костянтин Сергійович
Аксьонов, С.Ф.
Залізняк, В.Л.
Зубко, Ігор Анатолійович
Лукашенко, Валентина Максимівна
Ключові слова: мікроелектроніка;знакова модель;апаратно-обчислювальна платформа;об'єктно-інваріантні критерії
Дата публікації: 22-лют-2018
Видавництво: «Věda a technologie: krok do budoucnosti – 2018» : materiály XIV Mezinárodní vědecko-praktická konference Praha, 22-28 února 2018 г.
Короткий огляд (реферат): На сьогодні одним з багатьох напрямків науково-технічного розвитку є вдосконалення мікроелектроніки, що знаходить своє застосування в системах і пристроях керування великою множиною предметів дослідження. Метою дослідження є підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах. У роботі розв'язано важливу науково-технічну задачу підвищення ефективності процедури аналізу за рахунок розробки об'єктно-інваріантних критеріїв якості для множини апаратно-обчислювальних платформ, побудови знакової моделі в безрозмірних координатах.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/2868
ISBN: 978-966-8736-05-6
Початкова сторінка: 66
Кінцева сторінка: 70
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФІТІС)



Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.