Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем

Білокінь, Світлана Олександрівна; Андрієнко, Володимир Олександрович

Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798

Назва:	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем
Автори:	Білокінь, Світлана Олександрівна Андрієнко, Володимир Олександрович
Ключові слова:	діагностика;атомно-силова мікроскопія;нанооб'єкт
Дата публікації:	22-тра-2018
Видавництво:	Інтегровані інтелектуальні робототехнічні комплекси (ІІРТК-2018): Х міжнар. наук.-практ. конф.
Короткий огляд (реферат):	В науковій роботі, що проводиться колективом авторів, розробляються нові методики проведення комплексної діагностики мікрогеометричних параметрів та фізико-механічних властивостей (мікротвердості, зносостійкості, адгезійної міцності тощо) матеріалів для нанотехнологій в прецизійному приладобудуванні, робототехніці, наноелектроніці, медицині та мікрооптиці
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу):	http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798
Початкова сторінка:	100
Кінцева сторінка:	102
Розташовується у зібраннях:	Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файли цього матеріалу:

Файл	Опис	Розмір	Формат
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdf	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем	603.16 kB	Adobe PDF	Переглянути/Відкрити

Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики

Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.

Репозиторій ЧДТУ