Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем

Білокінь, Світлана Олександрівна; Андрієнко, Володимир Олександрович

Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798

Full metadata record

DC Field	Value	Language
dc.contributor.author	Білокінь, Світлана Олександрівна	-
dc.contributor.author	Андрієнко, Володимир Олександрович	-
dc.date.accessioned	2019-10-27T08:05:14Z	-
dc.date.available	2019-10-27T08:05:14Z	-
dc.date.issued	2018-05-22	-
dc.identifier.other	УДК 621.9	-
dc.identifier.uri	http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798	-
dc.description.abstract	В науковій роботі, що проводиться колективом авторів, розробляються нові методики проведення комплексної діагностики мікрогеометричних параметрів та фізико-механічних властивостей (мікротвердості, зносостійкості, адгезійної міцності тощо) матеріалів для нанотехнологій в прецизійному приладобудуванні, робототехніці, наноелектроніці, медицині та мікрооптиці	uk_UA
dc.language.iso	uk	uk_UA
dc.publisher	Інтегровані інтелектуальні робототехнічні комплекси (ІІРТК-2018): Х міжнар. наук.-практ. конф.	uk_UA
dc.subject	діагностика	uk_UA
dc.subject	атомно-силова мікроскопія	uk_UA
dc.subject	нанооб'єкт	uk_UA
dc.title	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем	uk_UA
dc.type	Publication in Conference Proceedings	uk_UA
dc.citation.spage	100	uk_UA
dc.citation.epage	102	uk_UA
Appears in Collections:	Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdf	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем	603.16 kB	Adobe PDF	View/Open

Show simple item record

ChSTU repository

ChSTU repository preserves and enables easy and open access to all types of digital content including text, images, moving images, mpegs and data sets