1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет електронних технологій і робототехніки
  4. Наукові публікації викладачів (ФЕТР)
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorБілокінь, Світлана Олександрівна-
dc.contributor.authorАндрієнко, Володимир Олександрович-
dc.date.accessioned2019-10-27T08:05:14Z-
dc.date.available2019-10-27T08:05:14Z-
dc.date.issued2018-05-22-
dc.identifier.otherУДК 621.9-
dc.identifier.urihttp://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798-
dc.description.abstractВ науковій роботі, що проводиться колективом авторів, розробляються нові методики проведення комплексної діагностики мікрогеометричних параметрів та фізико-механічних властивостей (мікротвердості, зносостійкості, адгезійної міцності тощо) матеріалів для нанотехнологій в прецизійному приладобудуванні, робототехніці, наноелектроніці, медицині та мікрооптиціuk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherІнтегровані інтелектуальні робототехнічні комплекси (ІІРТК-2018): Х міжнар. наук.-практ. конф.uk_UA
dc.subjectдіагностикаuk_UA
dc.subjectатомно-силова мікроскопіяuk_UA
dc.subjectнанооб'єктuk_UA
dc.titleПереваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та системuk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage100uk_UA
dc.citation.epage102uk_UA
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdfПереваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем603.16 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити
Показати базовий опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.