Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем

Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798

Title:	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем
Authors:	Білокінь, Світлана Олександрівна Андрієнко, Володимир Олександрович
Keywords:	діагностика;атомно-силова мікроскопія;нанооб'єкт
Issue Date:	22-May-2018
Publisher:	Інтегровані інтелектуальні робототехнічні комплекси (ІІРТК-2018): Х міжнар. наук.-практ. конф.
Abstract:	В науковій роботі, що проводиться колективом авторів, розробляються нові методики проведення комплексної діагностики мікрогеометричних параметрів та фізико-механічних властивостей (мікротвердості, зносостійкості, адгезійної міцності тощо) матеріалів для нанотехнологій в прецизійному приладобудуванні, робототехніці, наноелектроніці, медицині та мікрооптиці
URI:	http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/798
First Page:	100
End Page:	102
Appears in Collections:	Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
тези ИИРТК-2018_v.1.0.pdf	Переваги використання методу атомно-силової мікроскопії в діагностиці нанооб’єктів та систем	603.16 kB	Adobe PDF	View/Open

ChSTU repository