Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/9979
Назва: Analysis of the influence of external factors on the accuracy and reliability of measurements of low-intensity electric fields using an information-measurement system
Автори: Tychkov, Dmytro
Bondarenko, Maksym
Тичков, Дмитро Володимирович
Бондаренко, Максим Олексійович
Ключові слова: low-intensity electric fields;measurement system;atomic force microscope;regression modeling;external factors influence;Sobol`s LPτ-sequences;measurement accuracy and reliability
Дата публікації: 2025
Видавництво: Scientific Research Methodology – 2025. Proceedings Ukrainian Scientific and Practical Conference. Cherkasy. 2025
Короткий огляд (реферат): This study focuses on developing and validating an information-measurement system for low-intensity electric fields. It examines the impact of external factors such as temperature, humidity, and mechanical stress on measurement accuracy and reliability. Advanced experiment planning using Sobol’s LPτ-sequences enabled precise data collection with an atomic force microscope sensor. Regression models were built and statistically validated to predict field characteristics under varying environmental conditions. The results demonstrate high measurement stability and metrological compatibility, highlighting the system’s potential for industrial and educational applications
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/9979
Початкова сторінка: 91
Кінцева сторінка: 92
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФЕТАМ)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
збірник_SRM_14_11_2025_оновлення_02_12_2025 (10).pdf502.05 kBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.