1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет електронних технологій, автотранспорту та машинобудування
  4. Наукові публікації викладачів (ФЕТАМ)
Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБондаренко, Юлія Юріївна-
dc.contributor.authorАндрієнко, Володимир Олександрович-
dc.contributor.authorТитаренко, Віталій-
dc.date.accessioned2019-10-27T08:05:48Z-
dc.date.available2019-10-27T08:05:48Z-
dc.date.issued2018-10-11-
dc.identifier.urihttp://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800-
dc.description.abstractВстановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду.uk_UA
dc.language.isoukuk_UA
dc.publisherПриладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф.uk_UA
dc.subjectелемент пам'ятіuk_UA
dc.subjectатомно-силова мікроскопіяuk_UA
dc.subjectмікрорельєфuk_UA
dc.titleДослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопіїuk_UA
dc.typePublication in Conference Proceedingsuk_UA
dc.citation.spage17uk_UA
dc.citation.epage19uk_UA
Appears in Collections:Наукові публікації викладачів (ФЕТАМ)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
thesis 10-2018.pdfДослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії1.21 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open
Show simple item record


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.