Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Бондаренко, Юлія Юріївна | - |
dc.contributor.author | Андрієнко, Володимир Олександрович | - |
dc.contributor.author | Титаренко, Віталій | - |
dc.date.accessioned | 2019-10-27T08:05:48Z | - |
dc.date.available | 2019-10-27T08:05:48Z | - |
dc.date.issued | 2018-10-11 | - |
dc.identifier.uri | http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800 | - |
dc.description.abstract | Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду. | uk_UA |
dc.language.iso | uk | uk_UA |
dc.publisher | Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф. | uk_UA |
dc.subject | елемент пам'яті | uk_UA |
dc.subject | атомно-силова мікроскопія | uk_UA |
dc.subject | мікрорельєф | uk_UA |
dc.title | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії | uk_UA |
dc.type | Publication in Conference Proceedings | uk_UA |
dc.citation.spage | 17 | uk_UA |
dc.citation.epage | 19 | uk_UA |
Appears in Collections: | Наукові публікації викладачів (ФЕТР) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
thesis 10-2018.pdf | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії | 1.21 MB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.