1. Repository at ChSTU
  2. Матеріали, завантажені авторами
  3. Факультет електронних технологій і робототехніки
  4. Наукові публікації викладачів (ФЕТР)
Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Назва: Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії
Автори: Бондаренко, Юлія Юріївна
Андрієнко, Володимир Олександрович
Титаренко, Віталій
Ключові слова: елемент пам'яті;атомно-силова мікроскопія;мікрорельєф
Дата публікації: 11-жов-2018
Видавництво: Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф.
Короткий огляд (реферат): Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду.
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Початкова сторінка: 17
Кінцева сторінка: 19
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
thesis 10-2018.pdfДослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії1.21 MBAdobe PDFЕскіз
Переглянути/Відкрити
Показати повний опис матеріалу Перегляд статистики


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищено авторським правом, усі права збережено.