Please use this identifier to cite or link to this item:
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Title: | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії |
Authors: | Бондаренко, Юлія Юріївна Андрієнко, Володимир Олександрович Титаренко, Віталій |
Keywords: | елемент пам'яті;атомно-силова мікроскопія;мікрорельєф |
Issue Date: | 11-Oct-2018 |
Publisher: | Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф. |
Abstract: | Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду. |
URI: | http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800 |
First Page: | 17 |
End Page: | 19 |
Appears in Collections: | Наукові публікації викладачів (ФЕТР) |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
thesis 10-2018.pdf | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії | 1.21 MB | Adobe PDF | ![]() View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.