Please use this identifier to cite or link to this item: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Title: Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії
Authors: Бондаренко, Юлія Юріївна
Андрієнко, Володимир Олександрович
Титаренко, Віталій
Keywords: елемент пам'яті;атомно-силова мікроскопія;мікрорельєф
Issue Date: 11-Oct-2018
Publisher: Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф.
Abstract: Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду.
URI: http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
First Page: 17
End Page: 19
Appears in Collections:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
thesis 10-2018.pdfДослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії1.21 MBAdobe PDFThumbnail
View/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.