Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Название: | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії |
Авторы: | Бондаренко, Юлія Юріївна Андрієнко, Володимир Олександрович Титаренко, Віталій |
Ключевые слова: | елемент пам'яті;атомно-силова мікроскопія;мікрорельєф |
Дата публикации: | 11-окт-2018 |
Издательство: | Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф. |
Краткий осмотр (реферат): | Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду. |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800 |
Первая страница: | 17 |
Последняя страница: | 19 |
Располагается в коллекциях: | Наукові публікації викладачів (ФЕТР) |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
thesis 10-2018.pdf | Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії | 1.21 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.