Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Название: Дослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії
Авторы: Бондаренко, Юлія Юріївна
Андрієнко, Володимир Олександрович
Титаренко, Віталій
Ключевые слова: елемент пам'яті;атомно-силова мікроскопія;мікрорельєф
Дата публикации: 11-окт-2018
Издательство: Приладобудування та метрологія: Сучасні проблеми, тенденції розвитку: III Всеукр. науково-практ. конф.
Краткий осмотр (реферат): Встановлено, що метод атомно-силової мікроскопії є актуальним для вивчення працездатності пам'яті і виявлення причин порушення її структури і розподілу заряду. Запропонована методика дослідження елемента пам'яті, яка включає в себе вимірювання мікрорельєфу зразка з подальшим отриманням карти розподілу заряду по поверхні. Показана можливість побудови залежності похибки роботи пристрою, що запам'ятовує від електростатичного заряду.
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): http://er.chdtu.edu.ua/handle/ChSTU/800
Первая страница: 17
Последняя страница: 19
Располагается в коллекциях:Наукові публікації викладачів (ФЕТР)

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
thesis 10-2018.pdfДослідження техніко-експлуатаційних характеристик елементів пам'яті методом атомно-силової мікроскопії1.21 MBAdobe PDFЭскиз
Просмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.